이중 광원을 갖춘 Gaopin GP-306S-4K 4K 측정 현미경. 이 고배율 디지털 현미경은 듀얼 광원, 4K Ultra HD는 63X에서 414X까지 동초점 줌을 제공하여 확대를 통해 선명한 이미지를 유지합니다. 조정. 4K 이미징 모듈과 정밀 단안 줌 렌즈가 장착되어 있습니다. 베이스에는 상단이 내장되어 있으며 바닥 이중 광원: 표면 지형 검사를 위한 상단 조명, 윤곽을 보기 위한 하단 투과광 반투명 샘플. 내장된 측정 도구를 사용하면 빠른 치수 주석, 스냅샷 및 비디오 녹화가 가능합니다. 작은 부품에 대한 고배율 관찰 및 정밀 측정 요구 사항을 충족합니다.
일반 현미경과의 차이점:일반 고배율 현미경은 반사만 지원합니다. 표면 조명은 얇거나 반투명한 샘플에 대한 기능이 제한되어 있습니다. 이 고배율 전자 이중 광원을 갖춘 현미경은 상단 조명과 하단 투과광을 통합합니다. 하나의 기계로 두 가지 모두 달성 반사 및 명시야 투과 관찰. 63-414X 동초점 줌 및 4K 이미징으로 탁월한 측정 제공 표면 결함과 내부 윤곽 검사 모두에 대한 정확성.
적용 범위:칩 핀, 마이크로의 현미경 관찰 및 치수 측정에 이상적입니다. 금형, 정밀 스프링, 커넥터 접점 및 얇은 개스킷. 미세한 균열, 결함, 평탄도를 검출하고, 얇은 작업물의 투광성 윤곽을 볼 수 있습니다. 반도체 실험실 및 생산 QC에서 널리 사용됩니다. 액세서리 및 정밀 금형 산업.
| 모델 | GP-306S-4K | |||
| 광학 배율 | 63X-414X | |||
| 해결 | 3840×21604K | |||
| 측정 정확도 | 0.001~0.002mm | |||
| 산출 | 4K 디스플레이 측정용 HDMI + PC 측정용 USB 3.0 + PC 측정용 LAN 포트 | |||
| 측정 방법 | 실시간 이미지 측정 | |||
| 측정 단위 | mm, μm, mil, 인치(4개 전환 가능 단위) | |||
| 저장 | 외부 USB 드라이브 + PC 소프트웨어 저장소 | |||
| 조명 | LED 투과형 및 반사형 조명 | |||
| 표시 언어 | 중국어 간체 / 영어 (전환 가능) | |||
| 작업 | 마우스 조작 메뉴 | |||
| 측정 도구 | 축척 및 다양한 도구: 길이, 각도, 호, 원, 다각형, 폴리라인, 중심 거리, 직사각형, 메모 추가, 자동 가장자리 감지. | |||
| 운영 체제 | Linux 3.1 기반, 자체 개발 측정 시스템 | |||
| 이미지 이름 지정 | 자동 또는 수동 | |||
| 십자선 | 가로줄 100개, 세로줄 100개 | |||
| 인터페이스 | 1× USB 3.0, 1× USB 2.0, 1× 기가비트 이더넷 | |||
| 프로세서 | ARM Cortex-A17 쿼드 코어 @ 최대 1.4GHz(메인 프로세서) ARM Cortex-A7 단일 코어 @ 최대 900MHz(비디오 프로세서) |
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| 목적 | GP-306S-4K | |||
| 렌즈 배율 | 전자배율 | 시야 | 작동 거리 | |
| 0.7× | 64X | 7.9*4.4mm | 50mm | |
| 1× | 92X | 5*3mm | ||
| 1.5× | 138X | 3.6*2mm | ||
| 2× | 184X | 2.6*1.45mm | ||
| 2.5× | 230X | 2.1*1.2mm | ||
| 3× | 276X | 1.8*1mm | ||
| 3.5× | 322X | 1.5*0.85mm | ||
| 4× | 368X | 1.3*0.75mm | ||
| 4.5× | 414X | 1.2*0.65mm | ||
투명 및 불투명 작업물에 적합한 전환 가능한 동축 상단 조명 및 투과 하단 조명.
3840×2160 해상도, 왜곡 없는 선명한 이미지, QC 증거를 위한 작은 버 및 납땜 결함을 포착합니다.
확대/축소 후 초점을 빠르게 재조정하고 반복적인 샘플 비교를 위한 이미지 드리프트가 없습니다.
HDMI+USB 출력, 원클릭 사진/비디오. 소프트웨어는 측정 및 추적 가능한 마킹을 지원합니다.
견고한 베이스와 금속 스탠드, 장기간 생산 검사를 위한 작은 작업장 진동에도 흐림 방지 기능이 있습니다.
| 목 | 설명 |
| 제품 모델 | GP-306S-4K 듀얼 광원, 4K Ultra HD를 갖춘 고배율 디지털 현미경 |
| 제품 카테고리 | 산업용 4K 고배율 디지털 측정현미경 |
| 핵심기술 | 4K HD CMOS 이미징; 자체 개발한 Linux 이미지 측정 시스템 다기능 디지털 측정 엔진; 고속 듀얼 ARM 프로세서 아키텍처; 조절 가능한 LED 링 빛; 기가비트 이더넷 실시간 동기 전송. |
| 주요 사양 | 4K 해상도 3840×2160; 위치 지정을 통해 광학 배율 0.7–4.5× 연속 조정 가능; 총 배율 63-414×; 측정 정확도 0.001~0.002mm; mm / μm / 밀 / 인치 전환 가능; 세 가지 출력: HDMI, USB 3.0, 기가비트 이더넷; 외장 USB 드라이브 + PC / 네트워크-소프트웨어 듀얼 스토리지; 이미지 측정, 4K Ultra-HD 사진/비디오 캡처, 화면 이미지 비교, USB 드라이브 저장. |
| 일반적인 응용 분야 | PCB 결함 검사, 칩 검사, BGA 마이크로 솔더 조인트 검사; 정밀 하드웨어 차원 QC; 금속 구멍/가는선 미세 치수 측정; 유리 스크래치 검사, 전자 부품 검사; 금형 치수 측정, 실험실 정밀 치수 분석; 신에너지 부품검사, 크리스탈 검사. |
| 제조업체 | Kunshan Gaopin Precision Instruments Co., Ltd. |
| 주소 | 중국 장쑤성 쿤산시(상하이 인근) |
1. 미세한 PCB 트레이스 및 마이크로 솔더 조인트 검사:미세한 PCB 회로, BGA 솔더 관찰 볼을 사용하여 콜드 솔더, 솔더 비드, 회로 간격 및 솔더 마스크 스크래치를 식별합니다. 63-414X는 마이크로 스케일을 나타냅니다. 납땜 접합 결함.
2. 칩 및 반도체 핀의 품질 검사:IC 칩, MOS 튜브 및 커넥터 핀. 핀 부식, 변형, 과도한 납땜 및 패키지 균열을 감지하고 핀 피치 및 미세 표면 결함을 관찰합니다.
3. 정밀 소형 하드웨어의 미세 스크리닝:작은 회전 부품, 정밀 단자 및 마이크로 스프링. 압착 후 미세 균열, 코팅 핀홀, 가장자리 버 및 단면 결함을 검사합니다.
4. 정밀 플라스틱 및 실리콘 부품 검사:마이크로 사출 성형 부품, 밀봉 링 정밀 플라스틱 하우징. 표면 핀홀, 웰드라인, 재료 부족, 미세한 스크래치 등을 확인하여 평가 성형 품질.
5. 재료 표면의 미세 형태 관찰:금속 도금, 코팅, 분말 및 섬유 샘플. 재료 비교 및 예비 실패 분석을 위해 표면 입자와 질감을 관찰합니다.
6. 정밀 공작물의 미세 치수 측정:측정 소프트웨어로 라인 측정 너비, 간격, 조리개, 모따기 및 기타 작은 기하학적 크기로 실험실의 정밀 검사 요구 사항을 충족합니다. 및 생산 라인。
63X에서 414X까지 배율을 제공하는 고배율 동축 줌 렌즈를 채택했습니다. 전문적인 동초점 디자인 초점을 다시 맞추지 않고도 확대/축소하는 동안 초점을 안정적으로 유지합니다. 미세한 관찰을 위한 뛰어난 광학 해상도를 제공합니다. 부품, 작은 균열 및 마이크로 버.
별도의 밝기 조절이 가능한 상단 링 반사광과 하단 투과광을 갖추고 있습니다. 반영된 빛은 PCB, 금속 부품 및 골든 핑거의 표면 결함을 검사합니다. 투과광은 윤곽선에 사용됩니다. 투명시트,박막검사. 반사와 그림자를 줄여 투명과 모두 호환됩니다. 그리고 불투명한 샘플.
내장된 4K 산업용 CMOS 센서는 HDMI를 통해 실시간 4K 비디오를 출력합니다. 통합 측정 기능 지원 길이, 각도, 반경, 면적을 모니터에서 직접 측정합니다. 현장 불량검사에 PC가 필요하지 않으며, 스냅샷 및 비디오 녹화가 가능한 치수 확인.
HDMI는 생산 라인에서 실시간 현장 미리보기를 위해 모니터에 직접 연결됩니다. USB 연결로 PC 사용 가능 깊이 스태킹, 이미지 스티칭, 배치 이미지 보관 및 측정 보고서 내보내기를 포함한 기능. 그것 신속한 워크샵 QC와 고급 실험실 분석을 모두 충족합니다.
수직 금속 리프팅 칼럼은 이미지를 유지하기 위해 부드러운 높이 조절과 뛰어난 진동 저항 기능을 갖추고 있습니다. 공장 환경에서도 안정적입니다. 베이스에는 투과광을 위한 투광 스테이지가 제공됩니다. 장기간 연속 검사를 위해 작은 샘플을 고정할 수 있는 샘플 홀더가 장착된 관찰.
광학 렌즈 관리:전문 광학 렌즈 티슈나 극세사 먼지 방지 천만 사용하여 닦으십시오. 렌즈 표면. 렌즈 코팅이 긁힐 수 있으므로 종이 타월이나 거친 천을 사용하지 마십시오. 지문과 기름의 경우 얼룩이 있는 경우 소량의 광학 세척제를 천에 바르십시오. 렌즈에 액체를 직접 떨어뜨리지 마십시오. 피하다 손으로 렌즈의 광학 표면을 만지는 경우.
카메라, 렌즈 배럴 및 스탠드 유지 관리:4K 카메라, 줌 배럴 및 금속 기둥을 청소하십시오. 먼지가 없는 부드러운 마른 천. 장치 전체를 물에 노출시키지 마십시오. 알코올, 아세톤 및 기타 강한 부식성을 유지하십시오. 페인트와 인쇄된 표시를 보호하기 위해 용제를 사용하지 마십시오. 금속 산화 및 불량을 방지하기 위해 모든 커넥터를 건조한 상태로 유지하십시오. 연락.
무대 및 초점 메커니즘:부드러운 마른 천으로 검은색 스테이지의 먼지를 제거하세요. 먼지를 청소하세요. 정기적으로 초점 손잡이와 컬럼 가이드 레일을 조정하십시오. 소량의 마른 그리스를 도포할 수 있습니다. 액체 윤활제는 기름이 떨어지거나 렌즈와 샘플이 오염되는 것을 방지하기 위해 금지됩니다. 초점 손잡이를 부드럽게 작동하고 돌리지 마십시오. 기어 손상을 방지하기 위해 강제로 수행됩니다.
전원 및 작동 환경:정품 전원 어댑터를 사용하세요. 장비를 건조한 곳에 두십시오. 먼지가 적은 환경, 고온, 습도 및 심한 진동을 피하십시오. 전원을 끄고 어댑터를 뽑으세요. 오랫동안 사용하지 않을 때.
1. 중배율 및 고배율 검사용 공작물:63×–414×가 필요한 샘플 미세한 균열, 버, 표면 결함을 관찰하기 위해 확대합니다.
2. 투명 및 불투명 샘플:이중 광원을 채택합니다. 다음과 같은 불투명 부품에 적합합니다. 금속 및 플라스틱은 물론 필름, 유리, 얇은 조각과 같은 투명 및 반투명 가공물도 가능합니다.
3. 정밀 치수 측정 필요:미크론 수준의 측정이 필요한 제품 길이, 각도 및 호, 데이터 수집 및 품질 검사 보고서 생성.
4. 작은 정밀 부품:PCB 기판, 전자 부품, 정밀 금형, 소형 하드웨어 및 기타 정밀 공작물.
5. 필요한 이미지 보관 및 추적성:저장을 위해 사진 및 동영상 캡처가 필요한 제품 공정 추적성, 품질 보관 및 고객 불만 증거를 위한 결함 이미지.
6. 사용자 정의:중립 배송 지원
GAOPIN 현미경은 주요 기업, 연구 기관 및 대학에서 사용됩니다. 우리의 협력 관계에는 다음이 포함됩니다:
청화대학교 - 현미경 과학 연구 및 고급 재료 특성화
GREE Electric(허페이) – 부품의 미세 결함 검사 및 품질 검증
다보메디컬 – 의료용 임플란트의 미세 표면 품질 검사
ZTE Optoelectronics Technology Co., Ltd. – 광전자 부품 테스트 및 고장 분석
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd.는 2011년에 설립되었으며 창립자는 업계 전문 지식을 축적했습니다. 2005년부터 디자인, R&D, 판매 및 애프터 서비스를 전문으로 하는 기술 중심 기업입니다. 산업용 현미경. 10년 이상의 전문 노하우를 보유한 핵심 엔지니어링 팀을 자랑하는 검증된 기술력과 일관된 제품 신뢰성을 보장합니다. GAOPIN은 100개 이상의 서비스를 제공합니다. 광학 제품을 모델로 삼고 전 세계 고객에게 서비스를 제공하며 맞춤형 제품 공급에 전념하고 있습니다. 비용 효율적인 현미경 솔루션. 우리는 온라인 컨퍼런스를 포함하여 전 세계적으로 신속한 기술 지원을 제공합니다. 비디오 지원 운영 안내 및 원격 교육 세션. 우리의 제조 기지는 Kunshan에 위치하고 있습니다. 상하이와 가까운 장쑤성(江蘇省). 공장 현장 견학과 가상 공장 견학이 모두 가능합니다. 클라이언트에 사용할 수 있습니다. 이 고배율로 촬영한 샘플 테스트 이미지를 원하시면 언제든지 문의해 주세요. 듀얼 광원, 4K Ultra HD를 갖춘 디지털 현미경으로 이미징 성능을 직접 평가할 수 있습니다.
A1: 동초점 줌을 사용하면 63X에서 414X까지의 배율을 제공합니다. 전환 시 초점이 일관되게 유지됩니다. 배율 수준을 높여 반복적인 초점 조정 작업을 제거하고 배치 샘플의 효율성을 크게 향상시킵니다. 검사.
A1: 상단 조명은 작업물의 표면 결함을 확인하는 데 사용됩니다. 베이스에 내장된 투과형 하단 조명 내부 윤곽과 가장자리 구조를 관찰하기 위해 투명 및 반투명 샘플을 조명합니다. 1개 단위 표면 검사와 반투명 샘플 분석을 모두 처리합니다.
A1: 3840×2160 해상도의 4K 고화질 이미징 시스템을 갖추고 있습니다. 지원 소프트웨어는 다음을 지원합니다. 정확한 치수 측정. 검사관이 이미지를 저장하고 확인할 수 있도록 사진 캡처 및 비디오 녹화가 가능합니다. 품질 추적성을 위한 측정 데이터.
A4: 투과광 관찰을 위한 투명 창이 있는 전용 흰색 베이스를 채택하고 수직 단일 기둥 스탠드. 포커싱 핸드휠은 부드럽고 안정적인 댐핑을 제공합니다. 전체적인 구조가 탄탄하고 작은 작업장 진동에 강하며 장기간 연속 품질 검사에 이상적입니다.
A5: PC 없이 모니터에 직접 연결하여 라이브 뷰, 사진 캡처, 비디오 녹화를 할 수 있습니다. 고급 소프트웨어 측정 및 데이터 내보내기를 포함한 기능은 컴퓨터에 연결한 후 유연하게 사용할 수 있습니다. 다양한 워크스테이션 요구 사항에 적응.A3: 일관성 없는 수동 포인트 선택으로 인해 변동이 발생합니다. 공작물 오프셋, 초점이 맞지 않는 이미지 또는 잘못된 교정. 공작물 고정, 명확한 수동 초점 보장, 통합 표준을 선택하고 정확한 재교정을 수행하여 측정 안정성과 반복성을 향상시킵니다.
A4: 화이트 밸런스 설정을 확인하세요. 표준 화이트 레퍼런스에 대해 수동 화이트 밸런스 교정 수행 표면. 또한 광원 밝기가 안정적인지 확인하십시오.
A5: 전원 공급 장치와 HDMI 및 USB 포트의 단단히 연결을 확인하고 올바른 신호 출력 모드를 확인하십시오. 필요한 경우 결함이 있는 케이블을 교체하십시오. 정상적인 이미지 표시 및 캡처 기능을 복원하려면 장치를 다시 시작하십시오.
주소
중국 쿤산시 화교진 솽롄 국제 비즈니스 센터 2호관
