그만큼가오핀정립 금속현미경은 연마된 금속 표본, 코팅, 전자 부품 및 선택된 반도체 표면을 포함한 불투명 재료의 반사광 검사를 위해 설계되었습니다. 대물렌즈는 표본 위에 위치하므로 수직 구성이 스테이지에 장착된 준비된 표본에 적합합니다. 광학 구성에 따라 현미경은 명시야 관찰과 미세 구조, 표면 결함, 함유물 및 코팅 특징을 검사하기 위한 선택적 대비 기술을 지원할 수 있습니다.
장비 선택은 표본 유형, 준비 방법, 필요한 배율, 객관적인 작동 거리 및 의도된 분석으로 시작되어야 합니다. 에이현미경일상적인 금속 조직 검사에 사용되는 것은 반도체 표면 검사 또는 정량적 이미지 분석을 위한 것과는 다른 대물렌즈 세트, 조명 시스템, 스테이지 및 이미징 구성이 필요할 수 있습니다. 구매 전 제안 모델의 사양을 확인하세요.
정립형 금속현미경은 반사 조명을 사용하여 불투명 표본에서 반사된 빛을 검사합니다. 많은 투명 시료용으로 설계된 투과광 현미경과 달리 투과광을 통해 볼 수 없는 표면에 적합합니다. 이미지 품질은 표본 준비, 대물렌즈 개구수, 조명 균일성, 초점 및 재료의 광학적 특성에 따라 달라집니다.
광학 관찰만으로는 모든 재료 단계를 식별하거나 부품의 재료 사양 준수 여부를 확인할 수 없습니다. 입자 크기 등급, 함유물 분류, 코팅 측정 및 기타 정량 분석에는 적절한 준비, 보정된 이미지 스케일, 정의된 평가 절차 및 적절한 분석 방법이 필요합니다.
수직형 야금현미경은 대물렌즈를 시편 위에 놓고 반사광 광학 배열을 통해 표면에 조명을 비춥니다. 무한대 보정 광학 시스템은 다양한 산업용 현미경 설계에서 사용할 수 있지만 선택한 모델에 대해서는 대물렌즈 호환성, 튜브 렌즈 요구 사항 및 액세서리 사양을 확인해야 합니다.
조명 배열은 표면 특징이 나타나는 방식에 영향을 미칩니다. 명시야는 일반적으로 일반적인 반사광 검사에 사용됩니다. 암시야는 조명 기하학적 구조를 변경하여 선택된 표면 불규칙성, 긁힘 또는 가장자리 특징을 드러내는 데 도움이 됩니다. 편광은 특정 이방성 또는 광학적으로 반응하는 재료의 대비를 향상시킬 수 있습니다. 지원되는 경우 미분 간섭 대비(DIC)는 미묘한 표면 높이 변화와 경계를 강조할 수 있습니다.
이러한 방법은 서로 바꿔 사용할 수 없으며 옵션 모듈이 모든 현미경 본체 또는 대물렌즈와 반드시 호환되는 것은 아닙니다. 최상의 구성은 시편의 반사율, 표면 마감, 준비 및 구별해야 하는 특징에 따라 달라집니다.
가오핀 정립 금속 현미경 모델은 다양한 관찰, 이미징, 조명 및 스테이지 배열로 지정할 수 있습니다. 고려 중인 모델에 대해 각 옵션의 가용성을 확인해야 합니다.
| 구성 | 주요 목적 | 확인할 사항 |
|---|---|---|
| 쌍안 수직형 야금현미경 | 접안렌즈를 통한 직접 관찰 | 대물렌즈 범위, 접안렌즈 사양, 조명 및 무대 이동. |
| 삼안 정립형 야금현미경 | 추가 카메라 포트를 통한 접안렌즈 관찰 | 카메라 어댑터 호환성, 배광 및 지원되는 이미징 설정. |
| 명시야 및 암시야 구성 | 다양한 대비 방법을 이용한 반사광 검사 | 객관적인 호환성, 조명 제어 및 지원되는 광학 모듈. |
| 편광 금속현미경 | 편광 조명으로 대비가 향상되는 표본 관찰 | 편광판 및 분석기 배열, 회전 기능 및 표본 적합성. |
| DIC 장착 구성 | 선택된 표면 특징에 대한 대비 향상 | DIC 구성요소와 대물렌즈 및 광학 시스템의 호환성. |
| 전동 스테이지 구성 | 반복 가능한 검사 또는 이미징을 위해 제어된 시편 위치 지정 | 무대 이동, 위치 결정 해상도, 컨트롤러, 소프트웨어 및 부하 용량. |
| 광역 연구 구성 | 광학 장치가 지원하는 더 넓은 시야각에 걸친 관찰 | 필드 수, 대물렌즈 적용 범위, 이미지 평탄도 및 카메라 센서 호환성. |
대물렌즈 선택에 따라 현미경의 해상도, 작동 거리, 시야 및 사용 가능한 배율이 결정됩니다. 배율이 높을수록 자동으로 더 좋아지는 것은 아닙니다. 시야가 줄어들고 특징을 찾거나 더 넓은 영역을 효율적으로 검사하기가 더 어려워질 수 있습니다. 대물렌즈를 선택할 때 조리개 수치, 광학 보정, 조명 및 시편 준비도 중요합니다.
금속 조직 시편은 일반적으로 검사 전 절단, 적절한 장착, 연삭, 연마 및 때로는 에칭이 필요합니다. 준비 방법은 조사되는 재료와 구조에 따라 다릅니다. 긁힘, 풀아웃, 오염, 불균일한 연마 및 부적절한 에칭으로 인해 재료 결함으로 오인될 수 있는 인공물이 발생할 수 있습니다.
수직 배열은 일반적으로 스테이지에 배치된 준비된 시편에 실용적입니다. 키가 크거나 무겁거나 불규칙한 작업물은 사용 가능한 객관적인 작업 거리 또는 스테이지 간격을 초과할 수 있습니다. 이러한 샘플의 경우 수직 설계를 수행하기 전에 도립 금속 현미경 또는 다른 검사 장치를 평가하십시오.
삼안 Gaopin 정립 금속현미경은 디지털 이미지 획득을 위해 호환 가능한 C-마운트 카메라로 구성할 수 있습니다. 카메라 및 시스템 설정에 따라 이미징 워크플로는 실시간 보기, 정지 이미지 캡처, 비디오 녹화 및 소프트웨어 지원 분석을 지원할 수 있습니다. HDMI 및 USB는 현미경 광학 본체의 보장된 기능이 아닌 카메라 종속 출력 옵션입니다.
정량적 이미지 분석에는 카메라를 연결하는 것 이상의 것이 필요합니다. 선택한 대물렌즈 및 카메라 구성에 맞게 이미징 스케일을 보정해야 하며 분석 절차는 관련 재료 또는 테스트 방법에 적합해야 합니다. 입자 크기 통계 및 포함 분석은 표본 준비, 이미지 품질, 임계값 또는 분류 설정 및 적용 가능한 평가 표준에 따라 달라집니다.
공식적인 치수 검사 또는 도량형 작업의 경우 측정 정확도, 불확실성, 교정 추적성 및 적용 가능한 절차를 확인하십시오. 카메라와 소프트웨어 패키지만으로는 현미경을 인증된 측정 기기로 만들 수 없습니다.
| 선택 요소 | 정립형 야금현미경 | 도립형 금속현미경 |
|---|---|---|
| 객관적인 위치 | 표본 위 | 표본 단계 아래 |
| 일반적인 시편 설정 | 준비된 샘플을 무대에 올려 놓았습니다. | 스테이지 아래 대물렌즈 위에 위치한 적절하고 평평한 표면 |
| 일반적인 응용 | 장착되거나 준비된 시편의 일상적인 금속 조직 검사 | 스테이지에 안전하게 배치할 수 있는 선별된 크거나 무거운 공작물 검사 |
| 주요 고려사항 | 객관적 클리어런스 및 시편 높이 | 공작물 지지, 표면 방향 및 검사 영역에 대한 접근 |
어느 배열도 보편적으로 우월하지 않습니다. 선택은 공작물 치수, 표면 위치, 준비 요구 사항, 객관적인 작업 거리 및 시편 지지 방식에 따라 달라집니다. 광학 성능은 수직 또는 거꾸로 지정하는 것보다 실제 대물렌즈와 조명 구성을 사용하여 비교해야 합니다.
다양한 현미경 유형은 다양한 검사 작업을 수행합니다. 필요한 결과에 따라 장비를 선택하면 필요하지 않은 기능에 대한 비용을 지불하거나 광학 시스템이 의도한 범위를 벗어나는 성능을 기대하는 것을 방지하는 데 도움이 됩니다.
| 장비 유형 | 일반적인 작업 | 중요한 제한 사항 |
|---|---|---|
| 정립형 야금현미경 | 준비된 불투명 시편 및 재료 미세구조의 반사광 검사 | 표본 준비 및 광학 해상도는 식별할 수 있는 특징을 제한합니다. |
| 입체현미경 | 손상되지 않은 부품의 3차원 육안 검사 및 수동 조립 | 일반적으로 상세한 금속 조직 미세 구조 분석용으로 사용되지 않습니다. |
| HDMI 디지털 현미경 | 화면 기반 검사, 이미지 공유, 디지털 문서화 | 기능은 이미징 시스템에 따라 다릅니다. 표준 단일 카메라 보기는 기본 스테레오 접안렌즈 관찰을 제공하지 않습니다. |
| 측정현미경 또는 비전 측정 시스템 | 교정된 치수 검사 및 공차 평가 | 필요한 범위, 정확도 및 측정 불확도에 대해 지정하고 검증해야 합니다. |
| 전자현미경 | 기존 광학현미경의 실제 해상도를 뛰어넘는 이미징 기능 | 다양한 작동 조건, 표본 준비 및 투자가 필요합니다. |
기존의 광학 야금 현미경은 모든 나노 크기 특징을 확인할 수 없습니다. 대상 구조가 선택한 광학 시스템의 분해능 한계보다 낮은 경우 전자 현미경이나 다른 전문 분석 기술이 필요할 수 있습니다.
전체 검사 시스템에는 대물렌즈, 접안렌즈, 반사광 조명기, 광학 대비 모듈, 기계식 또는 전동식 스테이지, 카메라 및 이미지 분석 소프트웨어가 포함될 수 있습니다. Gaopin은 선택한 모델 및 애플리케이션에 따라 사용 가능한 액세서리 조합에 대해 논의할 수 있습니다.
완전한 워크스테이션을 주문하기 전에 기계적 장착, 대물렌즈 및 모듈 호환성, 카메라 센서 범위, 소프트웨어 지원, 무대 이동 및 필요한 전기 연결을 확인하십시오. 시스템이 표준화된 재료 테스트에 사용될 경우 구성을 마무리하기 전에 적용 가능한 테스트 방법과 필요한 문서를 식별하십시오.
가오핀의 정립 야금현미경 생산 공정에는 광학 부품 조립, 반사광 경로 정렬, 스테이지 및 하우징 조립, 해당되는 경우 카메라 포트 검증 및 최종 제품 검사가 포함될 수 있습니다. 모델에 따라 관련 검사에는 이미지 선명도, 필드 조명, 초점 동작, 대물렌즈 호환성, 스테이지 이동 및 선택한 명시야 또는 암시야 구성의 작동이 포함될 수 있습니다.
정의된 성능 요구 사항이 있는 프로젝트의 경우 구매자는 모델별 사양과 사용 가능한 검사 기록을 요청해야 합니다. 동초점 성능, 조명 균일성 또는 광학 해상도가 애플리케이션에 중요한 경우 "고해상도" 또는 "안정적인 이미징"과 같은 일반적인 설명에 의존하기보다는 평가 방법 및 허용 기준을 확인하십시오.
테스트 보고서에는 평가된 장비 또는 구성과 테스트된 매개변수가 명시되어야 합니다. 광학 검사 기록, 노화 테스트, 치수 검사 및 규정 준수 문서는 다양한 목적으로 사용됩니다. 하나를 다른 것의 대체물로 사용해서는 안 됩니다.
적용 가능한 규정 준수 요구 사항은 대상 시장 및 현미경과 함께 제공되는 구성 요소에 따라 다릅니다. CE 또는 FCC 문서가 필요한 경우 관련 선언 또는 보고서를 요청하고 해당 선언 또는 보고서에 포함되는 모델, 전기 어셈블리 또는 액세서리를 확인하십시오. 정확한 범위는 현미경 본체, 조명기, 전원 공급 장치, 카메라 및 전체 워크스테이션에 따라 다를 수 있습니다.
ISO 9001은 품질 경영 시스템에 관한 것입니다. 이는 특정 현미경의 광학 성능을 독립적으로 확립하지 않습니다. 구매자는 인증서의 범위와 유효성을 확인하고 실제 주문에 대한 제품 사양 및 관련 검사 기록을 요청해야 합니다. 모든 모델이나 옵션 모듈이 동일한 준수 상태를 가지고 있다고 가정하지 마십시오.
선택된 Gaopin 정립 금속현미경 모델의 브랜드가 없는 재고 샘플은 재고 및 구성에 따라 예비 평가에 사용될 수 있습니다. 샘플 시험은 대량 주문을 하기 전에 표본 호환성, 객관적인 작동 거리, 조명 성능, 이미지 품질 및 카메라 통합을 확인하는 데 도움이 될 수 있습니다.
선택된 구조적 또는 기능적 수정의 경우 예상 샘플 개발 기간은 영업일 기준 7~12일입니다. 대량 생산은 샘플 승인 후 영업일 기준 15~25일로 예상됩니다. 실제 시기는 주문 수량, 구성품 가용성, 요청된 변경 사항의 복잡성에 따라 달라집니다. 견적 또는 주문 확인서에서 최종 일정과 맞춤 제작 범위를 확인하세요.
보다 정확한 견적을 얻으려면 다음을 제공하십시오.
쌍안경 모델은 주로 접안렌즈 관찰을 위한 것이며 반드시 디지털 출력을 포함하지는 않습니다. 호환되는 삼안 모델은 적절한 어댑터를 통해 산업용 카메라를 수용할 수 있습니다. 시스템이 HDMI, USB 또는 접안렌즈와 화면 동시 보기를 지원하는지 여부는 카메라와 현미경의 광학 설계에 따라 다릅니다.
이러한 작업은 적합한 카메라, 보정된 이미지 스케일, 호환 가능한 분석 소프트웨어, 적절한 표본 준비 및 평가 방법으로 지원될 수 있습니다. 코팅 두께 측정에는 준비된 단면 검사나 다른 검증된 측정 기술이 필요한 경우가 많습니다. 입자 크기 및 함유물 분석은 관련 재료 표준 및 평가 절차에 따라 다릅니다. 시스템을 선택하기 전에 의도한 분석 방법을 확인하십시오.
일부 구성은 선택적 대비 모듈을 지원하지만 호환성은 현미경 본체, 대물렌즈, 조명기 및 광학 경로에 따라 다릅니다. 업그레이드를 주문하기 전에 모델과 원하는 표본을 확인하십시오. 이러한 방법은 선택한 기능의 가시성을 향상시킬 수 있지만 모든 결함이 표시된다는 보장은 없습니다.
렌즈 표면을 청소하기 전에 깨끗한 공기 송풍기로 느슨한 입자를 제거하십시오. 필요한 경우 제조업체의 지침에 따라 광학 렌즈 티슈와 코팅용으로 승인된 세척액을 사용하십시오. 종이 타월, 일반 천, 과도한 액체, 렌즈에 직접적인 압력을 가하지 마십시오. 내부 광학 어셈블리를 분해하지 마십시오. 내부 청소 및 정렬은 자격을 갖춘 서비스 직원이 처리해야 합니다.
공작물이 스테이지에 맞고 대물렌즈가 충분한 작동 거리를 제공할 때 접근 가능한 표면을 검사할 수 있습니다. 그러나 상세한 미세 구조 분석에는 일반적으로 적절한 시편 준비가 필요합니다. 크거나 높거나 무거운 부품은 사용 가능한 스테이지 및 대물렌즈 간격에 적합하지 않을 수 있습니다. 적절한 경우 도립현미경이나 다른 검사 방법을 고려하십시오.
선택된 수정사항에 대한 예상 샘플 개발 기간은 영업일 기준 7~12일이며, 샘플 승인 후 대량 생산을 위해서는 영업일 기준 약 15~25일이 소요됩니다. 이는 보장된 배송 날짜가 아닌 계획 견적입니다. 합의된 일정, 시료 승인 절차, 수정 범위를 서면으로 확인합니다.
광학 시스템, 대물렌즈 범위, 작동 거리, 조명 방법, 표본 치수, 스테이지 이동, 카메라 호환성, 분석 소프트웨어 및 사용 가능한 문서를 확인하세요. 정량적 재료 분석의 경우 표본 준비, 평가 표준, 교정 요구 사항 및 보고된 결과를 뒷받침하는 데 필요한 증거도 확인합니다.
