GAOPIN은 중국의 고정밀 연구용 현미경 전문 제조 및 도매 공급업체입니다. 우리
글로벌 바이어를 위한 웨이퍼 검사용 4K Ultra HD 금속 현미경을 포함한 전문 검사 장비의 R&D, 생산 및 대량 공급을 전문으로 합니다. GP-L600-324K 금속 현미경은 4K 기능을 갖추고 있습니다.
Ultra-HD 고배율 보기 및 정밀한 측정 기능. 선택적인 미분 간섭 대비(DIC)
액세서리는 향상된 현미경 관찰 성능을 제공합니다. 성숙한 연구 등급 광학 기술을 기반으로 구축
안정적인 성능으로 이 모델은 대량 조달, 구성 사용자 정의 및 원스톱 구매를 지원합니다.
고정밀 과학 연구 분석 및 대규모 산업 검사 요구 사항을 완벽하게 충족합니다.
GP-L600-324K 웨이퍼 검사용 4K Ultra HD 금속 현미경은 4K Ultra HD를 지원하는 연구용 웨이퍼 검사 금속 현미경입니다. 그것은 채택한다
나노 수준의 표면 높이를 감지하기 위한 옵션 Nomarski DIC 모듈이 포함된 무한대 보정 광학 시스템
변형. 이 장비는 명시야 및 편광 관찰을 지원합니다. 삼안 포트는 다음을 용이하게 합니다.
카메라 설치 및 금속 분석 소프트웨어와의 연결. 다음을 포함한 워크플로에 적합합니다.
금속 조직학 연구, 반도체 검사 및 재료 불량 분석.
적용 범위
이 웨이퍼 검사용 4K Ultra HD 금속 현미경은 금속 조직의 미세 구조와 표면 형태를 현미경으로 관찰하는 데 적합합니다. 그것
야금학, 광물학 및 정밀 공학 분야에 이상적인 연구 도구 역할을 합니다.
제품 개체 개요
목
설명
제품
GP-L600-324K 4K Ultra HD 웨이퍼 검사 금속현미경
범주
DIC 차동 간섭과 호환되는 실험실 연구용 삼안 야금 현미경,
명시야/암시야/편광 관찰
핵심기술
삼안 동시 관찰 광학 시스템, 다중 모드 통합 조명(명시야,
암시야, 편광판, 미분 간섭 대비 DIC), 고정밀 전문가용
야금학적
대물렌즈 세트, 4K Ultra-HD CMOS 이미지 센서, 듀얼 측정 시스템(모니터 내장)
측정 + PC 소프트웨어 측정), HDMI+Gigabit-LAN 듀얼 채널 신호 전송, 듀얼 스토리지
기술, 2차 개발 액세스를 지원하는 개방형 아키텍처
주요 사양
시각적 확대: 50/100/200/500×; 전자 배율: 190/380/760/1900×; 이중 출력
인터페이스: HDMI + 기가비트-LAN 포트; 4K 캡처 해상도: 3840×2160; 수동 초점 전용;
이중 측정
모드: 내장 정밀 측정 + 일치하는 PC 소프트웨어 측정; 듀얼 스토리지 모드: U 디스크
저장
+ 컴퓨터 소프트웨어 저장; 모니터 터미널: 치수 측정, HD 이미지 미리보기, 사진 보관;
PC 단말기: 치수 측정, 사진 저장; 전체 장치는 2차 개발 도킹을 지원합니다.
접안렌즈와 모니터를 통해 동시에 볼 수 있도록 삼안 하우징에 4K 카메라가 내장되어 있습니다. HDMI를 통한 듀얼 포트 출력
Gigabit-LAN은 Ultra-HD 마이크로 이미지를 실시간으로 전송합니다.
2. 다중 모드 고해상도 광학 시스템
DIC, 명시야, 암시야 및 편광 관찰을 지원합니다. 4단계 배율, 광학 50-500X, 최대
디지털
최대 1900X 배율로 미세한 특징 검사를 위한 선명한 세부 정보를 제공합니다.
3. 정밀하고 부드러운 수동 초점 메커니즘
강화된 렌즈 배럴 어셈블리와 결합된 이중 동축 초점 손잡이로 안정적인 초점 조정 및 이미지 최소화 가능
흔들리는.
4. 견고하고 안정적인 금속 프레임 및 베이스
두꺼운 일체형 금속 스탠드와 스테이지 브래킷은 무게 중심을 낮추어 현미경의 안정성을 유지합니다.
장시간 연구등급 검사.
5. 연구 중심의 올 화이트 프로페셔널 프레임
실험실, 연구 기관 및 반도체에 적합한 견고한 금속 본체의 모듈식 광학 레이아웃
제조 시설.
6. 광범위한 연구 및 산업 응용
웨이퍼 및 칩 검사에 최적화되었습니다. 또한 반도체 테스트, 금속 조직 분석,
재료 연구 및 정밀 품질 평가 작업.
7. 올인원 디지털 관찰, 측정 및 저장
4K 사진 및 비디오 캡처, 이중 측정 모드(화면 내장 + PC 소프트웨어). U 디스크를 통한 이중 스토리지 및
컴퓨터.
피사계 심도 합성 및 이미지 스티칭 기능은 PC 소프트웨어 지원에서만 실행됩니다.
2차 개발은
이미지 보관, 비교 및 고급 분석을 위해 LAN 포트를 통해 지원됩니다.
기존 금속현미경과의 차이점
1. 광학 관찰 모드:DIC, 명시야, 암시야를 포함한 다중 모드 광학 지원
결정 및 코팅 질감 관찰을 위한 편광. 일반 야금현미경은 다음과 같은 정보만을 제공합니다.
기본 명시야 및 초박막 층 및 결정 미세 구조를 시각화할 수 없습니다.
2. 이미징 시스템:네이티브 4K 울트라 HD 카메라, 동기화된 접안렌즈 및 모니터 보기. 보통
야금현미경은 저해상도 2K 카메라를 채택하고 왜곡된 고배율의 접안렌즈만 볼 수 있습니다.
출력.
3. 배율 조정:매크로 개요를 포괄하는 190-1900X의 4단 배율 범위
그리고 미세한 세부 검사. 일반 금속현미경은 배율 기어가 적고 영상이 흐릿합니다.
고전력.
4. 측정 및 기록:사진-비디오 녹화 기능을 갖춘 내장된 온-모니터 정밀 측정
능력. 일반 금속현미경에는 온보드 측정 기능이 없으며 모든 분석을 위해 PC 소프트웨어가 필요합니다.
그리고 아카이빙.
190-1900X 배율에 적합한 검사 작업
반도체 및 마이크로 전자공학(핵심 DIC 애플리케이션): 실리콘 웨이퍼, 리소그래피 슬라이스, IC 칩, PCB, FPC 연성 회로, 솔더 조인트, 패키징 부품. 검사 대상: 칩 표면 형상, 웨이퍼 에칭 패턴, 나노 스크래치, 냉납 접합부,
산화 및 핀 변형. DIC(미분 간섭 대비)는 미묘한 표면 높이 차이를 강조합니다.
190-1900× 배율 범위 내에서 미세 회로 슬라이스 관찰용.
금속 조직학적 금속 시편: 합금 금속 조직 섹션, 강철, 정밀하게 찍힌 금속 하드웨어. 검사 대상 : 금속 입자 구조, 열처리 분석, 미세 표면 균열, 모서리 치핑, 미세 버,
흔적과 내부 재료 불순물을 착용하십시오. 금속 결정의 명시야/암시야/편광 모드
구조 관찰.
실험실 샘플: 수정, 분말, 섬유 및 박막: 화학 결정, 금속 분말, 탄소 섬유, 광학 코팅 필름. 결정 형태, 입자 윤곽, 필름 박리 및 마이크로 코팅 질감을 관찰합니다. 편광
결정 분극 특성을 식별합니다.
광전자공학 및 정밀 플라스틱 부품: LED 칩, 광학 렌즈, 유리 기판, 반도체 포장 접착제. 미세 기공, 나노 스크래치, 접착제 박리, 기포, 얼룩 및 미묘한 표면 요철을 감지합니다.
고정밀 소형 부품: 커넥터, 단자, 마이크로 스프링, 작은 스탬프 가공품. 간격, 구멍 직경, 피치 및 표면 높이 차이를 4K 픽셀 수준으로 정확하게 측정합니다. DIC는 시각화
미묘한 압착 변형.
대학 연구실 및 고급 반도체 QC: 재료 연구 실험, 웨이퍼 입고 검사, 금속 조직 표본 관찰; 사진-비디오
연결된 PC를 통해 보관하고 정밀 측정 QC 보고서를 내보낼 수 있습니다.
현장 증거 및 신뢰성(직접 테스트)
역학:높은 강성과 내진동성을 위한 풀메탈 구조. 정밀도
백래시가 없는 거친 미세 포커싱. 마모가 적고 최소화된 고정밀 수동 XY 기계식 스테이지
통관. 3안 광학 경로는 대물렌즈를 전환할 때 광학적 공동 정렬을 유지합니다.
광학:김서림 방지 하드 코팅 처리된 무한대 보정 평면 무색 야금 대물렌즈입니다.
투과 반사 12V-100W 할로겐 램프 조명.
이미징 및 측정:830만 화소 4K 산업용 CMOS 카메라. 듀얼 출력: HDMI + 기가비트-LAN
포트, 산업 환경 사용을 위한 우수한 간섭 방지 성능. 내장된 모니터 측정 지원
및 PC 소프트웨어 측정. U 디스크 및 PC 소프트웨어를 통한 이중 경로 스토리지. 심도 합성 및
이미지 스티칭은 PC 소프트웨어에서만 사용할 수 있습니다. 기가비트 LAN을 통해 보조 개발 인터페이스를 사용할 수 있습니다.
이 모델을 선택하는 방법
선명도 요구 사항에 따라 해상도를 선택하세요.
기본 3840*2160 4K 이미징을 갖추고 있습니다. 금속 조직 분석, 칩 회로 검사 및
전문적인 테스트 보고서 생성으로 금속 입자, 미세 스크래치 및 작은 미세 결함을 명확하게 드러냅니다.
작동 빈도에 따라 포커싱 모드 선택
정적 실험실 샘플 및 저주파 공작물 교체에 적합한 수동 초점 설계. 안정적
미세 조정
장기간 정밀한 정적 시료 관찰을 위한 손잡이.
테스트 샘플에 따라 플랫폼 및 광학 경로 선택
표준 수동 이동 스테이지 및 칩 슬라이스용 수직 삼안 야금 광학 경로, 중소형
PCB
금속 조직 검사를 위한 반사 눈부심을 효과적으로 억제합니다.
샘플 크기에 따라 배율 선택
이중 배율 범위: 50-500X 광학 배율, 190-1900X 디지털 배율. 전체 표본을 모두 포함
개요 및 미세입자/미소결함 검사.
작업 요구에 따라 측정, 촬영 및 저장 기능 선택
내장된 온디바이스 측정 및 PC 소프트웨어 측정을 지원합니다. HDMI + Gigabit-LAN 포트가 장착되어 있습니다. 사진,
비디오 및 측정 데이터는 호환 U 디스크 또는 컴퓨터를 통해 저장할 수 있습니다. 2차 개발 지원
생산 라인 통합 및 실험실 데이터 추적성.
사용자 정의 옵션
요청 시 중립 포장 배송이 가능합니다.
기술 사양
모델
GP-L600-324K
해결
3840×2160
실제 유효 픽셀
8,300,000픽셀
포커싱 방식
수동 초점
광학 형식
1/1.7"
픽셀 크기
1.85μm×1.85μm
출력 방법
HDMI + 기가비트 이더넷 LAN 포트
각 출력 인터페이스에 해당하는 자세한 기능 소개
① HDMI는 4K 호환 디스플레이에 연결됩니다. 내장된 전문 이미지 처리 펌웨어 지원
사진 녹화, 비디오 녹화, 치수 측정, 이미지 재생 및 이미지 비교, 작동
실시간으로 마우스로. ② 기가비트 LAN 포트는 라우터, 스위치 또는 컴퓨터에 연결되어 네트워크를 구축합니다.
이미지
전송. 동일한 네트워크 세그먼트 내의 컴퓨터는 실시간 비디오를 수신하고 캡처를 트리거할 수 있습니다.
매칭 소프트웨어를 통해.
프레임 속도
HDMI: 60fps @3840×2160 기가비트 LAN: 20fps @1920×1080
심도 합성
/
이미지 스티칭
/
측정 방법
내장된 온-모니터 측정 시스템 + PC 소프트웨어 측정
측정 정확도
0.001mm
측정 단위
mm / μm / mil / 인치(4개 전환 가능 단위)
측정 도구
길이, 각도, 라디안, 원, 다각형, 폴리라인, 중심 간 거리, 직사각형, 주석
추가,
자동 가장자리 감지, 스케일 바 등
보관방법
U 디스크 스토리지 + PC 소프트웨어 스토리지
표시 언어
중국어 간체 / 영어 (전환 가능)
프로세서
ARM Cortex-A17 쿼드 코어 @ 최대 1.4GHz 주 제어 프로세서
운영 체제
Linux 3.1 커널을 기반으로 자체 개발된 측정 펌웨어
이미지 이름 지정
자동 또는 수동 이름 지정 가능
뷰잉 헤드
30° 경사형 힌지형 삼안 헤드; 동공 간 조정 범위: 54-76 mm; 두 개의 빔 분할
비율: 100:0, 0:100
관찰 모드
★ 명시야/암시야/편광/DIC(DIC 하드웨어는 옵션)
조명 시스템
투과 반사 낙광 조명 시스템, 100-240V 넓은 전압 입력, 조정 가능
필라멘트
중앙, 지속적으로 조정 가능한 광도.
서다
① 이중 목적 투과 반사 랙; 낮은 위치의 동축 거친 미세 포커싱 메커니즘.
대략 조정 스트로크: 33mm; 미세 조정 정확도: 0.001mm. 잠금 및 제한 기능 탑재
장치. ② 가변 조리개 조리개, 필드 조리개 및
조정 가능한 센터 어셈블리. ③ 간섭필터 및 색균형판(백색광)
반사광 광학 경로. ④ 명암시야 스위칭 장치; 컬러 필터용 슬롯 및
편광 액세서리.
기계 스테이지
4인치 수동 기계식 스테이지. 무대 크기: 230mm × 215mm; X-Y 이동: 105mm × 105mm. 유리
투과 및 반사 관찰을 위한 표본 운반판.
광원
12V 100W 할로겐 램프 챔버(반사광); 12V 100W 할로겐 램프(투과광).
편광 기능
30도 편광판 소켓(반사광); 편광용 360° 회전식 분석기 소켓
관찰.
접안렌즈
디옵터 조절이 가능한 PL10X/22mm 광각 평면 접안렌즈 2개(레티클이 있는 접안렌즈 1개)
규모).
노즈피스
★ 명암시야 5홀 대물렌즈 노즈피스
DIC 기능
미분 간섭 대비 기능; DIC 삽입 보드 액세서리는 선택 사항이며 포함되어 있지 않습니다.
안으로
표준 구성.
전자 인터페이스
0.5X C-마운트 카메라 인터페이스, 조정 가능한 초점; CTV 1X는 가격 차이 보상 기능이 있는 옵션입니다.
야금 대물렌즈
★ 명암시야 반파괴 야금 대물렌즈 ① OLIPBD5NCA-DIC 5X/0.15, 작동 중
거리: 9.00mm ×1pc ② OLIPBD10NCA-DIC 10X/0.30, 작동 거리: 9.00mm ×1개 ③
OLIPBD20NCA-DIC
20X/0.45, 작동 거리: 3.40mm ×1pc ④ OLIPBD50NC 50X/0.55, 작동 거리: 7.50mm ×1개 ⑤
OLIPBD100NC 100X/0.80, 작동 거리: 2.10mm(옵션, 표준 패키지에 포함되지 않음)
GAOPIN 현미경은 주요 기업, 연구 기관 및 대학에서 사용됩니다. 우리의 협력
관계에는 다음이 포함됩니다:
천진 상과대학교 - 재료 실험실 교육, 마이크로 이미징 및 실험 데이터 보관
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – 정밀 가공을 위한 치수 및 미세 결함 탐지
부품
AVIC Optronics Technology Co., Ltd. - 정밀 커넥터 및 부품 검사
상하이 광학 및 정밀 기계 연구소, CAS - 고급 광학 연구 및
광학 부품 특성화
시안교통대학교 - 첨단재료과학 및 정밀광학 실험-관찰
CAS Shanghai Institute of Ceramics – 무기 세라믹 및 신에너지 재료의 미세 분석
가오핀 소개
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd.는 2011년에 공식적으로 설립되었습니다.
뿌리깊은
우리는 2005년부터 광학 검사 계측 분야의 전문성을 보유하고 있습니다. 우리는 기술 중심 기업입니다.
전달
산업용 현미경의 설계, R&D, 글로벌 판매 및 애프터 서비스 지원을 포괄하는 전체 주기 서비스입니다. 우리의
핵심
엔지니어링 팀은 10년 이상의 전문 광학기기 개발 경험을 보유하고 있습니다.
검증된 안정적인 기술과 일관되게 신뢰할 수 있는 품질.
GAOPIN은 전 세계적으로 100개 이상의 광학 기기 모델을 갖춘 광범위한 제품 카탈로그를 유지하고 있습니다.
고객.
우리는 다양한 산업 검사 및 검사를 위한 유연하고 비용 효율적인 맞춤형 현미경 솔루션을 개발합니다.
실험실 연구 요구 사항.
온라인 미팅을 포함한 해외 고객을 위한 빠른 대응 글로벌 기술 지원이 가능합니다.
단계별 비디오 안내 및 원격 교육 세션. 우리의 제조 기지는 장쑤성 쿤산에 있습니다.
지방
(상하이와 가까움) 현장 공장 방문 및 가상 온라인 투어를 환영합니다. 자세한 내용은 영업팀에 문의하세요.
4K Ultra HD를 갖춘 이 웨이퍼 검사 금속현미경으로 캡처한 실제 샘플 테스트 이미지
평가하다
실제 이미징 성능.
자주 묻는 질문
Q1: 장치는 어떤 출력 인터페이스를 지원합니까? 컴퓨터에 연결할 수 있나요?
A1: HDMI 고화질 출력 및 LAN 포트의 듀얼 인터페이스를 갖추고 있습니다. 실시간 영상을 지원합니다.
모니터에 직접 연결하고, 네트워크 케이블을 통해 컴퓨터에 연결합니다. USB 및 WIFI 인터페이스가 없으면
독립적인 작업과 컴퓨터 공동 작업을 모두 지원합니다.
Q2: 이미징, 저장 및 측정 기능은 무엇입니까?
A2: 4K Ultra-HD 사진 및 비디오 녹화를 지원합니다. 32GB 이내의 FAT32 형식의 U 디스크에 파일을 저장할 수 있습니다.
용량 또는 컴퓨터 저장 공간. 데이터 저장 기능을 통해 화면상 및 PC 소프트웨어 정밀 측정을 모두 지원합니다.
보고서 내보내기 기능.
Q3: HDMI 연결 시 검은 화면이 나타나거나 이미지가 표시되지 않는 문제를 해결하는 방법은 무엇입니까?
A3: 전원 공급 장치와 일치하는 어댑터를 확인하세요. HDMI 케이블을 단단히 고정하십시오. 모니터를 전환하여 HDMI 신호 소스를 수정하세요.
검은색 화면 및 이미지 없음 오류를 해결하려면 장치를 다시 시작하세요.
Q4: 흐릿하고 초점이 맞지 않는 관찰 이미지를 수정하는 방법은 무엇입니까?
A4: 이것은 수동 초점 모델입니다. 선명한 이미지를 얻으려면 초점 핸드휠을 천천히 조정하세요. 대물렌즈를 단단히 잠그고 눕혀주세요
샘플을 평평하게 채취하고 렌즈 먼지와 얼룩을 정기적으로 청소하십시오.
Q5: 컴퓨터 네트워크 연결 오류를 해결하는 방법은 무엇입니까?
A5: 현미경과 PC가 동일한 IP 세그먼트 내에 있는지 확인하십시오. 방화벽 및 차단 소프트웨어를 비활성화합니다. 다시 자리에 앉다
네트워크 케이블; 장치를 재부팅하고 측정 소프트웨어를 지원하여 정상적인 연결을 설정하십시오.